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簡要描述：XRF光譜儀– QualiX- P1非常適合貴金屬分析，是電子/電器和裝飾品加工的理想選擇。
產(chǎn)品型號(hào)：QualiX-P1 廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-07-01訪 問 量：2575產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
| XRF光譜儀– QualiX- P1非常適合貴金屬分析，是電子/電器和裝飾品加工的理想選擇。 分析儀的兩個(gè)主要應(yīng)用是合金測定/化學(xué)分析，土壤分析和礦物分析 合金測定/化學(xué)分析 XRF分析儀在確定所檢查的合金以及對樣品的構(gòu)成元素進(jìn)行化學(xué)分析時(shí)可發(fā)揮*大的潛力。樣品制備中應(yīng)清除所有灰塵，鐵銹，油脂等。如果樣品已經(jīng)清潔，則無需進(jìn)行制備，不干凈的樣品將對分析產(chǎn)生重大影響。有許多因素可能會(huì)導(dǎo)致合金樣品分析錯(cuò)誤，例如樣品大小或清潔度等因素會(huì)干擾讀數(shù)。這些因素的解決方案可以很簡單，例如對樣品表面進(jìn)行涂漆或涂層，或者如果樣品尺寸太小，可以同時(shí)使用多個(gè)樣品。 性能： |
工作原理
當(dāng)某些元素受到X射線轟擊時(shí)，會(huì)發(fā)射出電子，從而使能量從外殼中釋放出來。電子可以從原子的內(nèi)殼中彈出，從而使它們從更高的層次下降。當(dāng)此事件發(fā)生時(shí)，稱為“特征X射線”。
X射線熒光過程
a致輻射的x射線和特征性x射線是由電子束產(chǎn)生的，這是由XRF分析儀用X射線轟擊樣品的原子而發(fā)生的。每個(gè)電子躍遷都發(fā)射特征X射線（熒光光子），其能量等于特定元素在兩個(gè)殼之間的能量差。電子在相同元素的所有原子中具有相同的固定能級，每個(gè)類似的電子躍遷均發(fā)射相同離散能量的X射線。因此，當(dāng)電子從同一元素的原子中射出時(shí)，發(fā)出的X射線是相同的。
| 技術(shù)指標(biāo)： 可測元素 鉀（K）?鈾（U） 同時(shí)元素 同時(shí)分析24個(gè)元素 測量對象 粉末，固體和液體 測試時(shí)間 60s-300s 能量分辨率 （155±5）電子伏特 分析精度 0.05％ 管電壓 5kV?50kV 管電流 50µA?1000µA 檢出限 1 ppm 環(huán)境溫度范圍 15-30°攝氏度 相對濕度 35?70％ 重量 30公斤 工作電壓 交流110v / 220v 箱體尺寸 310（寬）* 300（深）* 100mm（高） |
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