SM230 自動光學(xué)薄膜厚度掃描測繪儀

SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動光學(xué)薄膜厚度掃描測繪儀。

SM230自動光學(xué)薄膜厚度測繪儀由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的旋轉(zhuǎn)平臺。

1.產(chǎn)品特點：

·非接觸式、非破壞性的測試系統(tǒng)；

·超長壽命光源，更高的發(fā)光效率；

·高分辨率、高靈敏度光譜儀，測繪結(jié)果更準(zhǔn)確可靠;

·軟件界面直觀，操作方便省時；

·測繪速度快，支持多點測繪點位地圖繪制;

·支持繪制樣品2D/3D厚度分布圖；

·高精度、長壽命的3軸旋轉(zhuǎn)平臺；

·歷史數(shù)據(jù)存儲，幫助用戶更好掌握結(jié)果;

·桌面式分布設(shè)計，適用場景豐富;

2.應(yīng)用領(lǐng)域：

·半導(dǎo)體鍍膜    ·光學(xué)鍍膜     ·液晶顯示    

·微電子系統(tǒng)    ·生物醫(yī)學(xué)

3. 選型與規(guī)格參數(shù)：

光學(xué)膜厚儀通過測量薄膜的光學(xué)性質(zhì)來確定膜的厚度。其原理基于薄膜在不同波長的光線下會發(fā)生干涉現(xiàn)象。當(dāng)光線穿過薄膜時，會發(fā)生反射和透射，反射和透射的光線會發(fā)生干涉，形成明暗條紋。通過測量這些干涉條紋的特征，可以計算出薄膜的厚度。

光學(xué)膜厚儀通常使用白光或單色光源照射在薄膜上，然后測量反射光的強度或干涉條紋的間距，從而推斷出薄膜的厚度。這種方法適用于各種類型的薄膜，如光學(xué)鍍膜、涂層、光學(xué)薄膜等。通過光學(xué)膜厚儀可以非常精確地測量薄膜的厚度，廣泛應(yīng)用于光學(xué)、電子、材料等領(lǐng)域。