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全自動八度角積分式立式反射率測試儀SM120，應(yīng)用在電池片制絨工序監(jiān)控環(huán)節(jié)，為客戶電池片質(zhì)量品質(zhì)把控，降低損耗提供了有效的檢測方案。

SM280自動顯微薄膜厚度測繪儀采用顯微系統(tǒng)，可以進一步縮小光斑大小，從而實現(xiàn)非常優(yōu)秀的空間分辨率。同時，SM280采用一體化設(shè)計，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的3軸移動平臺。

SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動光學(xué)薄膜厚度掃描測繪儀，由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的旋轉(zhuǎn)平臺，

SM200系列光學(xué)薄膜厚度測量儀是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動薄膜厚度測繪儀，由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀結(jié)合算法技術(shù)。

品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。

品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。