1.非接觸式測(cè)量

　　采用的原理是通過(guò)光的反射原理對(duì)膜層厚度進(jìn)行測(cè)量，屬于非接觸式測(cè)量方法，不會(huì)對(duì)樣品造成任何損傷，能夠保證樣品的完整性。

　　2.測(cè)量數(shù)據(jù)多樣

　　可以測(cè)得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點(diǎn)。

　　3.測(cè)量快速

　　測(cè)量過(guò)程非?？焖?，因?yàn)樵撛O(shè)備采用了*結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，能夠極大程度的提升測(cè)量效率，相比于其他類型膜厚測(cè)量設(shè)備來(lái)說(shuō)顯得非常輕巧方便。

　　4.適用范圍廣

　　適用范圍非常廣泛，從普通家用到工廠的工業(yè)生產(chǎn)，再到大學(xué)實(shí)驗(yàn)室和科學(xué)研究所，都可以看到它的身影，由此可見(jiàn)它的使用范圍極其廣泛，能夠作業(yè)的場(chǎng)合也變得更加多樣化。

　　光學(xué)膜厚儀的使用注意事項(xiàng)

　　1.零點(diǎn)校準(zhǔn)

　　在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn)，因?yàn)橹暗臏y(cè)量參數(shù)會(huì)影響該次對(duì)物體的測(cè)量，零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測(cè)量有參數(shù)的影響，能夠降低測(cè)量的結(jié)果的誤差，使測(cè)量結(jié)果更加精確。

　　2.基體厚度不宜過(guò)薄

　　在使用光學(xué)膜厚儀對(duì)物體進(jìn)行測(cè)量時(shí)基體不宜過(guò)薄，否則會(huì)極大程度的影響儀器的測(cè)量精度，造成數(shù)據(jù)結(jié)果不準(zhǔn)確，影響測(cè)量過(guò)程的正常進(jìn)行。

　　3.物體表面粗糙程度

　　對(duì)于被測(cè)物體的表面不宜太過(guò)粗糙，因?yàn)榇植诘谋砻嫒菀滓鸸獾难苌?，降低了測(cè)量精度，造成很大的誤差。所以被測(cè)物體的表面應(yīng)該盡量保持光滑，以保證測(cè)量結(jié)果的精確性。

　　以上便是今天關(guān)于邁可諾總結(jié)的關(guān)于光學(xué)膜厚儀使用的事項(xiàng)真是齊全到位啊的全部分享了，希望對(duì)大家今后使用本設(shè)備能有幫助。